崗位職責(zé):
1.負(fù)責(zé)DRAM芯片測試程序開發(fā)與邏輯功能驗(yàn)證;
2.負(fù)責(zé)新產(chǎn)品&新制程芯片邏輯功能仿真、電性驗(yàn)證與異常分析, 測試覆蓋率評估;
3.負(fù)責(zé)新產(chǎn)品新設(shè)計(jì)DFT方案建議與designer評估與優(yōu)化, 產(chǎn)品DFT功能驗(yàn)證及Issue 分析;
4.測試異常處置、分析及測試問題澄清;
5.芯片測試硬件設(shè)計(jì)評估及驗(yàn)證;
6.ATE測試程序測試效率優(yōu)化。
任職要求:
1.具半導(dǎo)體領(lǐng)域1年以上工作經(jīng)驗(yàn),熟悉半導(dǎo)體測試系統(tǒng),Advantest/Teradyne ATE設(shè)備尤佳;
2.熟悉芯片測試原理及DFT方案設(shè)計(jì)驗(yàn)證;
3.了解DRAM存儲(chǔ)器的基本原理,有信號仿真和simulation經(jīng)驗(yàn)優(yōu)先 ;
4.微電子/集成電路/電子信息/通信/自動(dòng)化計(jì)算機(jī)及相關(guān)專業(yè);
5.至少熟悉一種常用的編程語言,具備良好的程式框架和編程風(fēng)格;
6.具備良好邏輯思維和工程實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)能力及分析能力。